イスの断面解析をお任せします。 【製品】 半導体 【詳細】 ■電子顕微鏡を用いたデバイスの断面解析 ・機械研磨とイオンミリング断面加工、および断面SEM解析/FIB-SEM断面解析/断面STEM解析 ■原子間力顕微鏡（AFM）を用いた形態解析 ・AFMによ...
グラフィ・エッチング・CVD／ALDの条件出し・歩留改善 ◇SiC／GaNパワーデバイス（MOSFET／HEMT）のプロセス設計 ◇EUV露光装置の評価・パラメータ最適化 ◇半導体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用...ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先端の技術に触れながらスキルアップを図ることができます。また、プロ...
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ト工程への改善策を提案します。具体的には、テスタを用いた不良現象の解明、EDAツールや解析装置による不良箇所の絞り込み、さらにFIBやSEMを活用した物理解析で不良部位を特定します。関係部門と連携し、解析結果を基に再発防止策を策定することも重要なミッションです。技術...
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