用薄片試料の作成および各種解析支援業務を実行するエンジニアを募集しております。 ─── 担当していただく業務内容 ─── 解析目的やターゲット箇所を明確にした解析依頼書の作成から着手し、FIB(集束イオンビーム)加工装置を駆使した高精度な断面カットおよびTEM/STEM観察用の薄片試料作製(サンプリング)を行...います。 FIB加工に伴う事前の試料前処理(カッティング、研磨、コート等)を含めた解析支援業務全般を網羅します。 (1)【具体的な業務】 ・解析目的に応じた適切な解析手法の選定、および構造・欠陥解析用「解析依頼書」の作成・管理 ・FIB(集束...
分析技術室人員の業務管理 ・各部門からの分析相談に関する議論・調整他 【開発環境・使用ツール】 所有分析装置:SEM,TEM,DualBeam FIB, AES他 【ポジションの魅力】 長岡工場にはSEM,TEM,FIB,AESの最...
な解析方法を検討する ・費用や納期を提示する ■サンプル前処理加工 ・電子顕微鏡で観察できるようにサンプルを特殊加工する ・SEM用には導電性コーティングを、TEM用には集束イオンビーム(FIB)などで電子が透過する厚さまで薄くする ■電子...
な解析方法を検討する ・費用や納期を提示する ■サンプル前処理加工 ・電子顕微鏡で観察できるようにサンプルを特殊加工する ・SEM用には導電性コーティングを、TEM用には集束イオンビーム(FIB)などで電子が透過する厚さまで薄くする ■電子...
者としてご活躍いただきます。TEM・SEM・FIB装置を使った解析業務を行います。 ■特徴: メーカーによる圧倒的な支持・安定経営・生涯雇用を誇りとしており、堅実さが一番の特徴と言えます。請負・受託開発の際だけでなく、派遣時におけるプロジェクトもチーム単位で行うため、結束...
Lugar:
Saku, Nagano | 03/06/2026 20:06:51 PM | Salario: S/. No Especificado
スキル ・経験者優遇(経験年数不問) ・試作、実験・評価、検査・測定などの経験をお持ちの方 ★半導体・FPD製造装置などの精密機械や装置経験者、優遇 ★下記ツールの使用経験者歓迎 TEM、FIB、膜厚測定器、パー...
製造装置などの精密機械や装置経験者、優遇 ★下記ツールの使用経験者歓迎 TEM、FIB、膜厚測定器、パーティクルカウンタなど ■ PRポイント ・検査・評価・テスト業務のご経験が活かせます。 ・OJTを通...
クトラムアナライザ 恒温・恒湿槽、硬度計、振動計、落下試験機、データロガ、TEM、FIB、膜厚測定器、パーティクルカウンタなど ■ PRポイント 大手企業にて就業可能になります。 PLCの使用経験のある方歓迎します! 募集要項 ■ 勤務...
に携わりたい方 ★下記ツールの使用経験者歓迎 測定機器:オシロスコープ、ロジックアナライザ、スペクトラムアナライザ 恒温・恒湿槽、硬度計、振動計、落下試験機、データロガ、TEM、FIB、膜厚測定器、パーティクルカウンタなど ■ PRポイント スキ...
製造装置などの精密機械や装置経験者、優遇 ★下記ツールの使用経験者歓迎 TEM、FIB、膜厚測定器、パーティクルカウンタなど ■ PRポイント 大手半導体製造装置メーカーでのお仕事になります 装置...