よるナノメータサイズの測長…（使用機器・技術…FIB、SEM、TEM、クライオミクロトーム） ※上記業務内容はパートナー企業の研究プロジェクトの一部であり、スキルや経験を踏まえて最適なプロジェクトに配属させていただきます。 ■教育環境： 研究...
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【仕事内容】 大手分析・半導体解析サービス会社でのお仕事です 【半導体メモリのレイヤ解析・断面解析】 ・ＴＥＭ試料作製準備（前処理） ・ＦＩＢ加工 ・ＴＥＭ観察 ・データ整理 ◆使用ツール・スキル：Excel、Word...
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【仕事内容】 大手半導体製造メーカーでのお仕事です。 電子顕微鏡を用いたデバイスの断面解析業務 ・機械研磨とIon Milling断面加工、および断面SEM解析 ・FIB-SEM断面解析 ・断面STEM解析 原子...
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