電子顕微鏡を用いたデバイスの断面解析(E260364763)
イスの断面解析をお任せします。 【製品】 半導体 【詳細】 ■電子顕微鏡を用いたデバイスの断面解析 ・機械研磨とイオンミリング断面加工、および断面SEM解析/FIB-SEM断面解析/断面STEM解析 ■原子間力顕微鏡(AFM)を用いた形態解析 ・AFMによ...
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グラフィ・エッチング・CVD/ALDの条件出し・歩留改善 ◇SiC/GaNパワーデバイス(MOSFET/HEMT)のプロセス設計 ◇EUV露光装置の評価・パラメータ最適化 ◇半導体ラインの不良解析(FIB/SEM/TEM)と対策業務 ■使用...ツール: ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD(Sentaurus、Silvaco) ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先端の技術に触れながらスキルアップを図ることができます。また、プロ...
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