な分析技術を保有しております。 ・学会・論文発表、大学との共同研究、キオクシア株式会社の新製品開発の分析など、単に受託分析するだけではなく、新しい技術の開発等も行っております。 ■業務内容: ・透過型電子顕微鏡(TEM)・集束イオンビーム(FIB)を用...未経験歓迎〜 ■必須条件:下記いずれかを用いた物理解析経験 ・透過型電子顕微鏡(TEM) ・集束イオンビーム(FIB)...
Lugar:
Kanagawa | 28/03/2026 03:03:25 AM | Salario: S/. No Especificado
務におけるリーダー候補として就業いただきます。 透過型電子顕微鏡(TEM)・集束イオンビーム(FIB)・走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた、 半導体製品の開発/量産品の評価、各種材料分析、製品解析をお任せします。 デバイスメーカーで培った経験豊かな技術で、電子顕微鏡による構造解析・元素...)下記いずれかを用いた物理解析経験 ・透過型電子顕微鏡(TEM) ・集束イオンビーム(FIB) ・走査型電子顕微鏡(SEM) (2)何らかのリーダー経験をお持ちの方...
Lugar:
Mie | 13/03/2026 03:03:08 AM | Salario: S/. No Especificado
[仕事詳細] <幅広い案件を多数保有/福利厚生・教育体制充実の中でキャリアアップ可能> ■業務概要: 半導体開発企業にて、SEMやFIBを用いた分析業務をお任せします。最先端の分析技術を駆使してデバイスの評価を行います。PLCの知...識を活かし、設計から実装までを担当いただきます。 ■業務詳細: ・SEM(走査型電子顕微鏡)やFIB(集束イオンビーム)を用いた半導体デバイスの分析 ・デバイスの構造解析、欠陥検出、材料特性評価 ・分析...
Lugar:
Oita | 03/03/2026 03:03:29 AM | Salario: S/. No Especificado
技術職(電気、電子、機械) 掲載予定期間:2026/3/26(木)〜2026/6/24(水) 【横浜】TEM・FIBを用いた半導体デバイスの解析エンジニア(メンバー)◆取引は半導体業界メイン 【フルフレックス/平均...クシア株式会社の新製品開発の分析など、単に受託分析するだけではなく、新しい技術の開発等も行っております。 ■業務内容: ・透過型電子顕微鏡(TEM)・集束イオンビーム(FIB)を用いて半導体製品の開発/量産品の評価 ・各種材料分析、製品解析 ☆デバ...
Lugar:
Isogo, Yokohama | 29/03/2026 01:03:10 AM | Salario: S/. No Especificado
電子デバイスエンジニアリング株式会社から東芝電子エンジニアリング株式会社に社名変更 2002年:2社が合併して東芝ナノアナリシス株式会社設立 2006年:ジャパン・エア・ガシズ株式会社(現、日本エア・リキード株式会社)が資本参加 【募集背景】 【仕事内容】 【横浜】TEM・FIBを用...イオンビーム(FIB)を用いて半導体製品の開発/量産品の評価 ・各種材料分析、製品解析 ☆デバイスメーカーで培った経験豊かな技術で、電子顕微鏡による構造解析・元素分析まで行い、お客様の技術・開発をサポートしていきます。 ■入社後の流れ: OJTや分...
技術職(電気、電子、機械) 掲載予定期間:2026/3/12(木)〜2026/6/10(水) 【四日市/リーダークラス】TEM・SEM・FIBを用いた半導体デバイスの解析◆高度な分析技術あり 【年休162日(交代勤務)/キオ...材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提供している同社において、半導体デバイスの解析でリーダーを担える方を募集しています。 ■業務内容 本業務におけるリーダー候補として就業いただきます。 透過型電子顕微鏡(TEM)・集束イオンビーム(FIB)・走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた、 半導...
Lugar:
Yokkaichi, Mie | 14/03/2026 22:03:18 PM | Salario: S/. No Especificado
分析及び評価 ・金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、化学分析及び評価 【募集背景】 【仕事内容】 【四日市/リーダークラス】TEM・SEM・FIBを用いた半導体デバイスの解析◆高度な分析技術あり 【年休162日(交代...材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提供している同社において、半導体デバイスの解析でリーダーを担える方を募集しています。 ■業務内容 本業務におけるリーダー候補として就業いただきます。 透過型電子顕微鏡(TEM)・集束イオンビーム(FIB)・走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた、 半導...
背景】 【仕事内容】 【千歳】半導体評価・解析(FIB-SEM/TEM)/政府と大手企業支援国家プロジェクト ~半導体×政府と主要企業がバックアップする国家プロジェクト/人員強化のための増員募集~ 【業務内容】 先端...の範囲:会社の定める業務 【対象となる方】 学歴不問 <応募資格/応募条件> ■必須要件:下記いずれかのご経験 ・FIB-SEM操作経験、及びTEM/STEM(関連分析技術含む)装置経験 ・EDS/EELSの測...
など多様な分野に対応できるエンジニアを擁しています。 【募集背景】 【仕事内容】 【大分】SEM/FIB分析エンジニア|半導体開発企業<SEM・FIB経験をお持ちの方へ>福利厚生充実 <幅広い案件を多数保有/福利厚生・教育体制充実の中でキャリアアップ可能> ■業務概要: 半導...体開発企業にて、SEMやFIBを用いた分析業務をお任せします。最先端の分析技術を駆使してデバイスの評価を行います。PLCの知識を活かし、設計から実装までを担当いただきます。 ■業務詳細: ・SEM(走査型電子顕微鏡)やFIB(集束イオンビーム)を用...
、国民の祝日、年末年始、創立記念日(8/10)・年末年始休暇、慶弔休暇、産前・産後休暇、育児休暇、介護休暇 [応募資格] 学歴不問 <応募資格/応募条件> ■必須要件:下記いずれかのご経験 ・FIB-SEM操作経験、及び...
Lugar:
Hokkaido | 03/03/2026 03:03:24 AM | Salario: S/. No Especificado