／GaNパワーデバイス（MOSFET／HEMT）のプロセス設計 ◇EUV露光装置の評価・パラメータ最適化 ◇半導体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD...
／GaNパワーデバイス（MOSFET／HEMT）のプロセス設計 ◇EUV露光装置の評価・パラメータ最適化 ◇半導体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD...
／GaNパワーデバイス（MOSFET／HEMT）のプロセス設計 ◇EUV露光装置の評価・パラメータ最適化 ◇半導体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD...
体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先...
体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先...
体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先...
体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先...
体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先...
端ロジックデバイス。InlineテストやWafer／Packageテストで検出された不良の原因を特定し、プロセス・設計・テスト工程への改善策を提案します。具体的には、テスタを用いた不良現象の解明、EDAツールや解析装置による不良箇所の絞り込み、さらにFIBやSEMを活...プロービング解析経験 ・FIB、SEMを使ったDelayering経験 ・その他、何らか半導体の不良解析経験...
体ラインの不良解析（FIB／SEM／TEM）と対策業務 ■使用ツール： ◇SEM、TEM、FIB、AFM ◇TCAD（Sentaurus、Silvaco） ◇EUV露光装置、アッシング装置、プラズマCVD、RIE これらのツールを駆使して、最先...